薄膜介质损耗仪

在科技日新月异的今天，材料科学的每一次突破都推动着人类文明的边界向前跃进。而在这场探索未知的征途中，一个看似不起眼却至关重要的工具——高频介电常数测量仪，正悄然扮演着解锁材料“隐形密码"的关键角色。它如同一双锐利的眼睛，穿透物质的表象，精准捕捉那些决定材料性能与应用的微妙电学特性。无论是半导体材料的研发、高分子复合材料的优化，还是生物医学工程中生物组织的电特性分析，高频介电常数测量仪都以它精确度，为科研人员提供了一条通往材料世界深层奥秘的捷径。接下来，就让我们一同揭开这款高科技仪器的神秘面纱，探索它如何在材料科学的浩瀚星空中，点亮一盏盏指引未来的明灯。

仪器简介

介质损耗和介电常数是各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质。通过薄膜介质损耗仪测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。

仪器用途

薄膜介质损耗仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。

参考标准

u GB/T 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法；

u GB/T 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；

u ASTM-D150-介电常数测试方法；

u GB9622.9-88/SJT 11043-1996 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法。

技术参数